Du 25 au 28 juin 2018, les associations AFRIF (Association Française pour la Reconnaissance et l'Interprétation des Formes), SFPT (Société Française de Photogrammétrie et de Télédétection) et le chapitre français de la société GRSS de l'IEEE organisent conjointement sur le campus Cité Descartes (Marne-la-Vallée) leurs congrès.

Les trois communautés ont de nombreuses thématiques en commun, les problématiques de reconstruction, de localisation, d'indexation et de reconnaissance d'objets en étant quelques exemples. Cette colocalisation, organisée pour la première fois, sera l'occasion d'échanges fructueux entre elles.

Le lundi 25 juin sera consacré à des ateliers et des tutoriels. Les deux conférences se tiendront à partir du mardi 26 juin, sur trois jours pour le congrès Reconnaissance des Formes, Image, Apprentissage et Perception RFIAP (26-28 juin 2018), et sur deux jours pour la Conférence Française de Photogrammétrie et de Télédétection CFPT (26-27 juin 2018). Une session spéciale intitulée « Deep Learning, deep in France » sera également organisée dans le cadre de RFIAP sous l’égide du projet collaboratif Deep in France (soutien ANR) pour se focaliser sur des enjeux récents autour de l’apprentissage profond (deep).

Vous trouverez toutes les informations utiles dont le programme, un appel à communication, et comment s'inscrire sur le site de l'évènement.